APPAREIL D’ANALYSE XRF RAPIDE ET AUTOMATISÉE

POURQUOI CHOISIR UN MODELE FT200 ?

PRINCIPALES CARACTÉRISTIQUES

Conçu pour simplifier et accélérer les tests de composants et d’assemblages, les FT200 d’Hitachi permettent de mesurer plus de pièces en moins de temps grâce aux fonctionnalités suivantes :

• • Reconnaissance intelligente avec Find My Part™. Cette fonction sélectionne automatiquement les caractéristiques à mesurer et les routines d’analyse afin que l’opérateur passe moins de temps à utiliser l’appareil de mesure XRF et plus de temps à exploiter les résultats.
  • Nouveau logiciel FT Connect. Il donne la priorité à la vue de l’échantillon et à la présentation claire des résultats d’analyse. Il est intuitif et facile à utiliser par des non-spécialistes grâce à une nouvelle interface utilisateur;.
  • Focalisation automatisée (Autofocus) pour réduire le temps de chargement des échantillons.
  • 2^ème caméra à large champ de vision pour analyser plus facilement et plus rapidement des circuits imprimés ou les pièces métalliques de grandes dimensions.
  • Diagnostics d’autocontrôle pour confirmer la santé et la stabilité de l’instrument.
  • Intégration parfaite à d’autres logiciels et exportation facile des données.
  • Durable pour une longue durée de vie dans un environnement de production ou de laboratoire difficile
  • Conforme aux normes ASTM B568, DIN ISO 3497 et NFC74-100
  • Permet de répondre aux spécifications ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), Sn en immersion (IPC-4554) et Ag en immersion (IPC-4553A).
  • [FT230] Un détecteur à dérive en silicium (SDD) à grande surface et haute résolution pour une grande précision sur les revêtements les plus fins et les plus complexes.