Analyse de revêtements galvanisés (XRF)
Cet exemple d’application présente un cas d’analyse des revêtements galvanisés en utilisant la méthode de spectrométrie de fluorescence des rayons X dite XRF.
CONTEXTE
Métaux, plastiques, céramiques et d’autres matériaux sont plaqués ou revêtus pour améliorer les propriétés de composants mécaniques individuels ou de produits finis comme par exemple : la résistance à la corrosion, la résistance à l’usure, la tolérance aux hautes températures, une bonne conductivité électrique ou pour des raisons esthétiques.
Comme les industries concernées par la galvanoplastie s’orientent vers un contrôle à 100% pour assurer que leurs produits respectent leur durée de vie estimée, l’augmentation du contrôle qualité et des tests d’assurance qualité des revêtements galvanisés est anticipé. L’amélioration du contrôle qualité peut aussi entrainer la réduction de la consommation de produits chimiques et des déchets.
Différentes formes et tailles de pièces peuvent exister en galvanoplastie et poser des challenges analytiques. Cependant, ils peuvent tous bénéficier d’un échantillon simple pour les représenter et d’une meilleure précision pour des milliers de mesures XRF chaque jour.
La configuration du matériel et les caractéristiques du logiciel de l’analyseur XRF ont tous les deux un impact important sur les programmes d’essai. En ayant le bon matériel, les opérateurs peuvent répartir leur temps de travail sur la ligne de production et le temps à effectuer les mesures avec le FT 230.
Le FT 230 est un appareil de mesure XRF des revêtements métalliques conçu pour simplifier et accélérer les tests de composants et d’assemblages avec une analyse rapide et automatisée.
L’APPLICATION
Notre gamme d’analyseurs XRF permet d’assurer la cohérence et la précision de l’épaisseur des revêtements de composants mécaniques, mesurant les éléments les plus complexes avec un haut degré de précision et de fiabilité.
Le FT 230 a été fabriqué pour simplifier et accélérer le contrôle des composants et assemblages. En effet, il permet de mesurer plus de pièces en moins de temps. Votre XRF pourra prendre les décisions à votre place avec les différentes caractéristiques proposées :
- Find My Part™ est un système de reconnaissance intelligente pour obtenir un temps de préparation plus rapide.
- Une focalisation automatisée des échantillons permet d’augmenter le débit et de facilité l’utilisation de l’appareil.
- Une deuxième caméra à large champ de vision permet de facilité la localisation des éléments à contrôler.
- Une connectivité flexible permet l’envoi des résultats aux systèmes SCADA, QMS, MES et ERP.
- Un détecteur de dérive au silicium haute résolution et à grande surface pour une haute précision sur des revêtements plus fins et plus complexes.
Résultats
Les performances typiques pour des applications courantes et représentatives sont présentées dans les tableaux ci-dessous. La précision a été calculée à partir de la répétabilité de 30 mesures consécutives. La précision est influencée par le temps de mesure, la taille du collimateur, les éléments présents et la gamme d’épaisseur. Dans certains cas, l’erreur peut être réduite en optimisant la plage d’étalonnage pour des applications spécifiques.
Performances STANDARDS
Au/PdNi/Ni/Cu utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.
| Substance à analyser | Plage de test | Erreur relative | Précision |
| Au | 0.05 – 1 μm | 0.025 μm ou 5% d’erreur relative | 0.005 μm pour 0.25 μm |
| PdNi | 0.05 – 1.5 μm | 10% d’erreur relative | 0.011 μm pour 1.02 μm |
| Ni | 2 – 15 μm | 15% d’erreur relative | 0.021 μm pour 4.7 μm |
PerformanceS STANDARDS
Cr/Ni/Cu/ABS plastic utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.
| Substance à analyser | Plage de test | Erreur standard | Précision |
| Cr | 0.25 – 0.99 μm | 0.025 μm ou 5% d’erreur relative | 0.014 μm pour 0.99 μm |
| Ni | 0.97 – 9.5 μm | 10% d’erreur relative | 0.396 μm pour 9.5 μm |
| Cu | 2.3 – 22.3 μm | 15% d’erreur relative | 1.147 μm pour 12.3 μm |
PerformanceS STANDARDS
NiP/Fe utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.
| Substance à analyser | Plage de test | Erreur standard | Précision |
| NiP | 0.45 – 20.5 μm | 0.025 μm ou 5% d’erreur relative | 0.363 μm pour 8.3 μm |
| P | 4 – 14% P | 2% de la composition | 1.09% P pour 8% de P |
PerformanceS STANDARDS
Sn/Ni/Cu utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.
| Substance à analyser | Plage de test | Erreur standard | Précision |
| Sn | 2.16 – 9.8 μm | 0.025 μm ou 5% d’erreur relative | 0.014 μm pour 4.9 μm |
| Ni | 0.97 – 15.1 μm | 10% d’erreur relative | 0.036 μm pour 4.7 μm |
En résumé
La gamme d’analyseurs XRF FT 230 offre une analyse précise et fiable des revêtements galvanisés. Grâce aux normes d’étalonnage traçables de chez Hitachi, les échantillons utilisés en milieu de production peuvent être mesurés simplement et rapidement par des opérateurs de tous niveaux. Les résultats apparaissent en quelques secondes, ce qui permet une optimisation quasi instantanée du processus de production.
Avec son ensemble de fonctions de productivité avancées et ses performances de pointe, le FT230 est la solution la plus complète pour mesurer les revêtements galvanisés.
Pour en savoir plus sur cet appareil, retrouvez toutes les informations et spécifications de ce produit sur notre page internet dédiée à FT 230. Vous pourrez également y télécharger une plaquette ou demander un devis.
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