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Analyse de revêtement métallique par fluorescence X (XRF)

Expertise et conseil personnalisés

L’analyse par fluorescence X (XRF) est une technique non destructive utilisée pour déterminer la composition chimique et l’épaisseur de revêtements métalliques sur un échantillon. La mesure de revêtements par XRF est largement utilisée dans divers secteurs, notamment l’électronique (les circuits imprimés ou PCB, et les composants tels que les semiconducteurs) ou les finitions métalliques de type nickel, chrome ou zinc, en raison de sa capacité à fournir des analyses rapides, précises et non destructives.
Cette méthode est capable d’analyser des solides ou des liquides pour une large gamme d’éléments allant de l’aluminium 13Al à l’uranium 92U sur le tableau périodique. Les analyseurs XRF permettent de mesurer des épaisseurs de revêtements allant du nanomètre à quelques dizaines de micromètres.

Mesure d'épaisseur par fluorescence X

Avec notre partenaire Hitachi High-Tech Analytical Science, nous proposons trois gammes d’appareils de mesure d’épaisseur de revêtement

X-STRATA 920 sans fond

X-STRATA 920

Équipement XRF robuste et éprouvé pour des applications simples

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L'appareil FT230 utilisé dans cette application

FT-230

Équipement XRF de dernière génératon avec fonctions d'automatisation avancées, offrant une précision exceptionnelle pour un usage industirle

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FT-160

Équipement XRF de dernière génération avec une précision au nanomètre pou les revètements métalliques ultra-minces

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ETALONS POUR ANALYSE PAR FLUORESCENCE X (XRF)

Les équipements de Hitachi High-Tech Analytical Science garantissent des mesures précises grâce à une calibration avancée pour une large gamme de matériaux. Nous offrons des étalons adaptés, qu’ils soient à revêtements monocouches, multicouches, ou personnalisés, pour assurer une parfaite compatibilité avec votre application.

L’analyse XRF offre une précision inégalée dans l’évaluation des revêtements métalliques. Hitachi maîtrise cette technologie et poursuit ses efforts pour la rendre toujours plus simple à utiliser.

Richard HUILLERY
Responsable Thermographie Infrarouge
et Contrôle Non Destructif

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