Analyse de revêtement par fluorescence X (XRF)

L’analyse par fluorescence X (XRF) est une technique non destructive utilisée pour déterminer la composition chimique et l’épaisseur de revêtement sur un échantillon. Lors de l’analyse, l’échantillon est bombardé par des rayons X, générant des rayons X secondaires (fluorescents) émis par les éléments présents. Chaque élément émet des rayons X fluorescents à des énergies spécifiques, créant ainsi un spectre unique pour chaque substance. En mesurant l’intensité et l’énergie de ces rayons X fluorescents, un spectromètre XRF peut identifier et quantifier les éléments présents dans l’échantillon. La mesure de revêtements par XRF est largement utilisée dans divers secteurs, notamment l’électronique (les circuits imprimés (PCB), les composants tels que les semiconducteurs) ou les finitions métalliques (résistance à la corrosion, à l’usure, aux hautes température ou décoratives), en raison de sa capacité à fournir des analyses rapides, précises et non destructives. Cette méthode permet de mesurer des éléments allant du sodium à l’uranium, sur des échantillons solides, liquides ou en poudre.