ANALYSE DE DEFAILLANCES ELECTRONIQUES PAR THERMOGRAPHIE INFRAROUGE

ANALYSE DE DEFAILLANCES ÉLECTRONIQUES

La solution E-LIT est un système de contrôle non destructif pour l’analyse de défaillances de vos composants électroniques. Il permet d’observer la présence de défauts comme par exemple des dysfonctionnements, des malfaçons, des détériorations, des usures normales ou anormales, des courts-circuits… Le E-LIT vous permettra de visualiser la répartition de la température, les pertes de puissance locales, les pertes de courants, les points chauds ainsi que les problèmes de soudure. Pour cela, nous utilisons les temps de mesure les plus courts combinés à une caméra thermographique haute performance et la méthode lock-in (modulation du signal d’excitation et synchronisation avec la partie acquisition).

L’alimentation des composants est gérée directement par un module synchronisé au logiciel de pilotage et de traitement. Les défaillances génèrent des échauffements locaux au minimum de quelques mK ou même μK qui sont détectés de manière fiable par le système de thermographie lock-in.

PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT

Le principe du E-LIT repose sur une excitation électrique modulée du composant à sa tension nominale d‘alimentation. Le signal électrique délivré au composant est régulé grâce au boîtier de contrôle développé par notre partenaire Infratec. Il est également possible de contrôler la durée de l’excitation du système sur une à plusieurs périodes du signal. La réponse du composant à cette alimentation modulée est observée à l’aide d’une caméra infrarouge. Il est ensuite possible de remonter aux défauts présents dans l’échantillon grâce au logiciel IRBIS de traitements des données, cela permet d’obtenir des images de phase à partir des films infrarouges enregistrés.