RECHERCHE ET LOCALISATION DE DEFAILLANCES ELECTRONIQUES PAR THERMOGRAPHIE INFRAROUGE

LITe - CND pour composants électroniques

Système de recherche et de localisation de défaillances électroniques par thermographie infrarouge active. Méthode alternative aux méthodes conventionnelles destructrices

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CND COMPOSANTS ELECTRONIQUESLock-In Thermography for electronics

Le LITe (Lock-In Thermography for electronics) est un système de Contrôle Non-Destructif (CND) pour l’étude et l’analyse de vos composants électroniques. Il est une excellente alternative aux méthodes conventionnelles destructives. En effet, la présence de défauts dans vos composants ou systèmes électroniques (défaillance, dysfonctionnement, malfaçon, détérioration, usure, etc.) peut nuire dangereusement à leur fonctionnement et à celui de vos équipements. Grâce à la technologie du LITe, vous pourrez localiser de façon rapide et précise les éventuels points chauds de vos composants ou systèmes électroniques, tout en vous affranchissant des problèmes d’émissivité liés à l’état de surface de vos supports.

PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT

Le principe du LITe repose sur une excitation électrique modulée du composant à sa tension nominale d‘alimentation. Le signal électrique délivré au composant est régulé grâce au boîtier de contrôle développé par notre partenaire Edevis. Il est également possible de contrôler la durée de l’excitation du système sur une à plusieurs périodes du signal. La réponse du composant à cette alimentation modulée est observée à l’aide d’une caméra infrarouge Teledyne FLIR. Il est ensuite possible de remonter aux défauts présents dans l’échantillon grâce au logiciel  Edevis de traitements des données, et permettant d’obtenir des images de phase à partir des films infrarouges enregistrés.

          LITe - Analyse de défaillances électroniques

Spécifications Techniques
Système de recherche et de localisation de défaillances électroniques

Le LITe a été conçu pour détecter d’éventuelles défaillance dans vos systèmes électroniques en s’affranchissant des problèmes d’émissivité.

Domaine d’application
Fabricant de composants ou cartes électroniques
Fréquence d’excitation
≥ 1 Hz
Gestion de l’amplitude
De 0 à 100 %
Caméra infrarouge
Bolométrique ou refroidie

La méthode est en constante amélioration, les spécifications sont donc susceptibles de changer sans avertissement préalable

Les Accessoires

Caméras infrarouges Teledyne FLIR

Caméra infrarouge

Différents types de caméras, bolométriques ou refroidies, sont disponibles suivant votre besoin.

Table et support optique

Table avec support optique

Equipements spécifiques pour réaliser vos essais dans des conditions expérimentales optimales.

Mini bras Manfrotto

Mini bras articulés

Bras articulés Manfrotto de petites dimensions fixables sur la table de travail, ou tout autre support, et permettant un maintien optimal de vos pinces d’alimentation.

Pinces d'alimentation

Pinces d'alimentation

Pinces et câbles avec embouts spécifiques, idéals pour l’alimentation et le maintien de tous vos échantillons.


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Exemples d'applications

Analyse de défaillance composant - LITe Contrôle d'un composant

Possibilité de contrôler la structure interne de vos composants pour vous assurer qu’ils ne sont pas défectueux.

Détection de défauts sur PCB - LITe Détection de défauts sur PCB

Contrôle de vos PCB (Printed Circuit Boards) pour détecter la présence éventuelle de défauts.

Contrôle de brasures - LITe Contrôle de brasures

Contrôle de la qualité des brasures sur des assemblages métalliques.

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Repérer les points chauds anormaux de vos systèmes peut vous permettre d’anticiper d’éventulles défaillances sur vos cartes électroniques.