Analyse de revêtements en argent (XRF)

 L’APPLICATION 

L’argent est un élément clé dans l’or à faible teneur en carat et pour différents bijoux. Avec l’augmentation constante du prix de l’or, l’industrie de l’électronique a au fur et à mesure adopté l’usage de l’argent et intégré l’argent dans leurs revêtements dans différentes applications où sa tendance à migrer, à se ternir ou à se déstabiliser électriquement ne pose aucun problème de performance.

Pour garantir la bonne fonctionnalité des composants plaqués, les placages ont besoin d’avoir une épaisseur d’argent constante. L’appareil X-STRATA 920 permet d’obtenir des analyses non destructives rapides et fiables des revêtements en argent avec un haut degré de confiance avec très peu de temps de préparation pour l’échantillon.

Le système est très facile d’utilisation. Sa conception robuste et résistante est parfaitement adaptée pour les milieux de production.

La famille d’analyseurs EDXRF de table d’Hitachi est utilisée dans le domaine depuis plus de vingt ans et conçoit la solution la plus efficace pour mesurer l’épaisseur des revêtements en argent.

 Résultats 

Les performances typiques pour des applications courantes et représentatives sont présentées dans les tableaux ci-dessous. La précision a été calculée à partir de la répétabilité de 30 mesures consécutives. La précision est influencée par le temps de mesure, la taille du collimateur, les éléments présents et la gamme d’épaisseur. Dans certains cas, l’erreur peut être réduite en optimisant la plage d’étalonnage pour des applications spécifiques.

Applications STANDARDS

Couche supérieur	Deuxième couche	Substrat
Ag		Cu, CuZn
Ag	Cu	Fe, Cu, Zn
Ag	Ni	Cu, Fe

PerformanceS STANDARDS pour une application à une seule couche

Ag/Cu utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.

Substance à analyser	Plage de test	Erreur standard	Précision
Ag	1.09 – 30 μm	0.025 μm ou 5% d’erreur relative	0.156 μm pour 11.97 μm ou 0.66 μm pour 30 μm

PerformanceS STANDARDS pour une application à DOUBLE COUCHES

Ag/Cu/Fe utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.

Substance à analyser	Plage de test	Erreur standard	Précision
Ag	1.09 – 30 μm	0.025 μm ou 5% d’erreur relative	0.05 μm pour 1.07 μm ou 0.14 μm pour 6.18 μm
Cu	1.01 – 12.2 μm	10% d’erreur relative	0.048 μm pour 1.01 μm ou 0.695 μm pour 5.92 μm

PerformanceS STANDARDS pour une application à DOUBLE COUCHES

Au/Ni/CuSn utilisant le collimateur circulaire de 0.3 mm de diamètre.

Substance à analyser	Plage de test	Erreur standard	Précision
Au	1.09 – 5.22 μm	0.025 μm ou 5% d’erreur relative // 2% relative for composition	0.048 μm pour 2.49 μm ou 0.146 μm pour 5.34 μm
Ni	0.43 – 5.22 μm	10% d’erreur relative	0.144 μm pour 2.46 μm ou 0.954 μm pour 6.49 μm

 En résumé 

La gamme d’analyseurs XRF X-STRATA 920 offre une analyse précise et fiable des revêtements en argent. Grâce aux normes d’étalonnage traçables de chez Hitachi, les échantillons utilisés en milieu de production peuvent être mesurés simplement et rapidement par des opérateurs de tous niveaux. Les résultats apparaissent en quelques secondes, ce qui permet une optimisation quasi instantanée du processus de production.