Analyse de revêtement par fluorescence X (XRF)

L’analyse de revêtement par fluorescence X (XRF) est une technique non destructive utilisée pour déterminer la composition chimique et l’épaisseur de revêtements métalliques sur un échantillon. La mesure de revêtements par XRF est largement utilisée dans divers secteurs, notamment l’électronique (les circuits imprimés ou PCB, et les composants tels que les semiconducteurs) ou les finitions métalliques de type nickel, chrome ou zinc, en raison de sa capacité à fournir des analyses rapides, précises et non destructives.

Cette méthode est capable d’analyser des solides ou des liquides pour une large gamme d’éléments allant de l’aluminium ¹³Al à l’uranium ⁹²U sur le tableau périodique. Les analyseurs XRF permettent de mesurer des épaisseurs de revêtements allant du nanomètre à quelques dizaines de micromètres.