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Analyse de revêtement par fluorescence X (XRF)

Expertise et conseil personnalisés

L’analyse de revêtement par fluorescence X, ou en anglais XRF, est une technique non destructive utilisée pour déterminer la composition chimique des matériaux, notamment des alliages et l’épaisseur de revêtements métalliques sur un échantillon.
Cette méthode est capable d’analyser des solides ou des liquides pour une large gamme d’éléments allant de l’aluminium 13Al à l’uranium 92U sur le tableau périodique.
La mesure d’épaisseur de revêtements par fluorescence X est largement utilisée pour contrôler des pièces dans divers secteurs.
Par exemple dans l’électronique avec les circuits imprimés (ou PCB), et les composants électroniques tels que les semiconducteurs. On cherchera alors à déterminer avec précision l’épaisseur de fines couches de métaux rares d’or (Au) ou d’argent (Ag), ou encore des couches de cuivre (Cu) ou d’étain (Sn) par exemple.
On retrouve également  ce type d’équipement pour le contrôle de finitions métalliques résultant d’un traitement de surface de type nickel électrolytique (Ni), nickel chimique (NiP), chrome (Cr), zinc (Zn), cuivre (Cu) en raison de sa capacité à fournir des analyses rapides, précises et non destructives, parfois sur de grandes séries.
Les métaux et les revêtements métalliques appliqués en monocouche ou multicouches dans la plage de 0,001 à 50 μm sur presque tous les matériaux de substrat – y compris les métaux (et alliages type aciers, laitons CuZn, bronzes CuSn, etc.), les polymères, les céramiques et le verre – peuvent être mesurés avec précision grâce à cette technologie de pointe.

Mesure d'épaisseur par fluorescence X

Avec notre partenaire Hitachi High-Tech Analytical Science, nous proposons trois appareils pour l’analyse de composition et la mesure d’épaisseur de revêtement par fluorescence X (XRF).

X-STRATA 920 sans fond

X-STRATA920

Équipement compact, robuste et fiable. Il est parfait pour des applications ponctuelles à régulières.

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L'appareil FT230 utilisé dans cette application

Série FT200

Équipement de dernière génération incluant des fonctions d'automatisation avancées, offrant une précision exceptionnelle pour un usage industriel.

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FT160

Équipement de dernière génération avec une précision au nanomètre pour les revêtements minces.

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ETALONS POUR ANALYSE PAR FLUORESCENCE X (XRF)

Les équipements de Hitachi High-Tech Analytical Science garantissent des mesures précises grâce à une calibration avancée pour une large gamme de matériaux. Nous offrons des étalons adaptés, qu’ils soient à revêtements monocouches, multicouches, ou personnalisés, pour assurer une parfaite compatibilité avec votre application.

L’analyse par fluorescence X offre une précision inégalée dans l’évaluation des revêtements métalliques. Hitachi maîtrise cette technologie et poursuit ses efforts pour la rendre toujours plus simple à utiliser.

Richard HUILLERY
Responsable Thermographie Infrarouge
et Contrôle Non Destructif

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