Appareil XRF de mesure d'épaisseur

Fluorescence X (XRF)

L’analyse de l’épaisseur des revêtements et l’analyse des matériaux par fluorescence X (XRF) est une technique de mesure largement adoptée et reconnue par l’industrie. Facile à utiliser, rapide et non destructive, elle ne nécessite que peu ou pas de préparation de l’échantillon et permet d’analyser des solides ou des liquides sur une large gamme d’éléments du tableau périodique à un niveau de résolution spatiale de l’ordre du µm.

X-STRATA920

Le X-Strata920 est un appareil XRF de mesure d’épaisseur des revêtements monocouches et multicouches, y compris les alliages, dans les secteurs de l’électronique et de la métallurgie (traitement de surface).

Cet appareil de haute technologie offre une large gamme d’applications pour l’analyse des revêtements, s’adaptant à des échantillons de formes et tailles variées.

Le X-Strata920 propose trois plateaux de mesure adaptés à tous types de pièces :

• • Plateau standard : idéal pour les petites pièces et les échantillons longs et fins, comme les cartes de circuits imprimés
  • Plateau Mini-well : offre une plus grande flexibilité pour l’analyse de pièces volumineuses
  • Plateau motorisé programmable XY : permet de mesurer automatiquement plusieurs échantillons ou différents points sur un même échantillon